欠陥制御・界面制御に基づく窒化ガリウム系デバイス構造の高信頼化
CiNii
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Bibliographic Information
- Title
- "欠陥制御・界面制御に基づく窒化ガリウム系デバイス構造の高信頼化"
- Statement of Responsibility
- 研究代表者 橋詰保
- Publisher
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- [北海道大学量子集積エレクトロニクス研究センター]
- Publication Year
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- 2007.4
- Book size
- 30cm
- Other Title
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- ケッカン セイギョ カイメン セイギョ ニモトズク チッカ ガリウムケイ デバイス コウゾウ ノ コウシンライカ
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Notes
課題番号: 17360133
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1130000795711876992
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- NII Book ID
- BA83084635
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- Country Code
- ja
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- Title Language Code
- ja
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- Place of Publication
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- [札幌]
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- Data Source
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- CiNii Books