パワーMOSFETの耐放射線性評価試験
CiNii
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書誌事項
- タイトル
- "パワーMOSFETの耐放射線性評価試験"
- 責任表示
- 宇宙開発事業団編
- 出版者
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- 宇宙開発事業団
- 出版年月
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- 1999.6
- 書籍サイズ
- 30cm
- タイトル別名
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- パワー MOSFET ノ タイホウシャセンセイ ヒョウカ シケン
- The evaluation test for single event phenomina of power MOSFETs caused by nuclear reactions with incident heavy ions
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注記
作成元: 高信頼性部品
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000795722644480
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- NII書誌ID
- BA68687657
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- 本文言語コード
- ja
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- 出版国コード
- ja
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- タイトル言語コード
- ja
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- 出版地
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- 東京
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- データソース種別
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- CiNii Books