Tests, measurements, and characterization of electro-optic devices and systems, 8 September 1989, Boston, Massachusetts
書誌事項
- タイトル
- "Tests, measurements, and characterization of electro-optic devices and systems, 8 September 1989, Boston, Massachusetts"
- 責任表示
- Shekhar G. Wadekar, chair/editor ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering ; cooperating organizations, Applied Optics Laboratory/New Mexico State University ... [et al.]
- 出版者
-
- SPIE
- 出版年月
-
- c1990
- 書籍サイズ
- 28 cm
この図書・雑誌をさがす
注記
Includes bibliographical references and index
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1130000795790013568
-
- NII書誌ID
- BA24456293
-
- ISBN
- 0819402168
-
- LCCN
- 89043443
-
- Web Site
- https://lccn.loc.gov/89043443
-
- 本文言語コード
- en
-
- 出版国コード
- us
-
- タイトル言語コード
- en
-
- 出版地
-
- Bellingham, Wash.
-
- データソース種別
-
- CiNii Books