Machine vision applications in industrial inspection II : 8-9 February 1994, San Jose, California
書誌事項
- タイトル
- "Machine vision applications in industrial inspection II : 8-9 February 1994, San Jose, California"
- 責任表示
- Benjamin M. Dawson, Stephen S. Wilson, Frederick Y. Wu, chairs/editors ; sponsored by IS&T--the Society for Imaging Science and Technology, SPIE--the International Society for Optical Engineering
- 出版者
-
- SPIE
- 出版年月
-
- c1994
- 書籍サイズ
- 28 cm
- シリーズ名/番号
-
- pbk.
この図書・雑誌をさがす
注記
Includes bibliographical references and index
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1130000795997953536
-
- NII書誌ID
- BA2739602X
-
- ISBN
- 0819414786
-
- LCCN
- 93087318
-
- Web Site
- https://lccn.loc.gov/93087318
-
- 本文言語コード
- en
-
- 出版国コード
- us
-
- タイトル言語コード
- en
-
- 出版地
-
- Bellingham, Wash., USA
-
- データソース種別
-
- CiNii Books