Machine vision applications in industrial inspection II : 8-9 February 1994, San Jose, California

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タイトル
"Machine vision applications in industrial inspection II : 8-9 February 1994, San Jose, California"
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Benjamin M. Dawson, Stephen S. Wilson, Frederick Y. Wu, chairs/editors ; sponsored by IS&T--the Society for Imaging Science and Technology, SPIE--the International Society for Optical Engineering
出版者
  • SPIE
出版年月
  • c1994
書籍サイズ
28 cm
シリーズ名/番号
  • pbk.

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注記

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