電子デバイス用バルク単結晶中の欠陥形成過程の検討
書誌事項
- タイトル
- "電子デバイス用バルク単結晶中の欠陥形成過程の検討"
- 責任表示
- 研究代表者柿本浩一
- 出版者
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- [九州大学]
- 出版年月
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- 2000.3
- 書籍サイズ
- 30cm
- タイトル別名
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- デンシ デバイスヨウ バルク タンケッショウチュウ ノ ケッカン ケイセイ カテイ ノ ケントウ
- 平成9年度-平成11年度科学研究費補助金(基盤研究C(2))研究成果報告書(09650813)
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000796022255744
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- NII書誌ID
- BA46682070
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- 出版国コード
- ja
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- タイトル言語コード
- ja
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- 出版地
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- [福岡]
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- データソース種別
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- CiNii Books
