Speckle metrology 2003 : 18-20 June 2003, Trondheim, Norway
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書誌事項
- タイトル
- "Speckle metrology 2003 : 18-20 June 2003, Trondheim, Norway"
- 責任表示
- Kay Gastinger, Ole Johan Løkberg and Svein Winther /editors ; sponsored and organized by SINTEF (Norway) and NTNU--Norwegian University of Science and Technology (Norway) ; cooperating organizations, SPIE--The International Society for Optical Engineering and EOS-- European Optical Society
- 出版者
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- SPIE--the Internatinal Society for Optical Engineering
- 出版年月
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- c2003
- 書籍サイズ
- 29 cm
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注記
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000796493871872
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- NII書誌ID
- BA63255961
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- ISBN
- 0819447285
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash
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- データソース種別
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- CiNii Books