Speckle metrology 2003 : 18-20 June 2003, Trondheim, Norway

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書誌事項

タイトル
"Speckle metrology 2003 : 18-20 June 2003, Trondheim, Norway"
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Kay Gastinger, Ole Johan Løkberg and Svein Winther /editors ; sponsored and organized by SINTEF (Norway) and NTNU--Norwegian University of Science and Technology (Norway) ; cooperating organizations, SPIE--The International Society for Optical Engineering and EOS-- European Optical Society
出版者
  • SPIE--the Internatinal Society for Optical Engineering
出版年月
  • c2003
書籍サイズ
29 cm

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注記

Includes bibliographical references and index

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000796493871872
  • NII書誌ID
    BA63255961
  • ISBN
    0819447285
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Bellingham, Wash
  • データソース種別
    • CiNii Books
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