書誌事項
- タイトル
- "Integrated circuit failure analysis : a guide to preparation techniques"
- 責任表示
- Friedrich Beck ; translated by Stephen S. Wilson
- 出版者
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- John Wiley & Sons
- 出版年月
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- c1998
- 書籍サイズ
- 24cm
- タイトル別名
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- Präparationstechniken für die Fehleranalyse an integrierten Halbleiterschaltungen
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注記
Includes bibliographical references and index
Translated from the German
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000796594913152
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- NII書誌ID
- BA40662241
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- ISBN
- 0471974013
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- LCCN
- 97011255
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/97011255
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- uk
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Chichester
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- 分類
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- DC21: 621.38152
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- 件名
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- LCSH: Semiconductors -- Failures
- LCSH: Semiconductors -- Testing
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- データソース種別
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- CiNii Books