書誌事項
- タイトル
- "Point defects in semiconductors"
- 責任表示
- M. Lannoo, J. Bourgoin ; with a foreword by J. Friedel
- 出版者
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- Springer-Verlag
- 出版年月
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- 1981-1983
- 書籍サイズ
- 24 cm
- シリーズ名/番号
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- v. 1 : us
- v. 1 : gw
- v. 2 : us
- v. 2 : gw
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注記
v. 1. Theoretical aspects
v. 2. Experimental aspects
Vol. 2 by J. Bourgoin, M. Lannoo, with a foreword by G.D. Watkins
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000796610937600
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- NII書誌ID
- BA01492094
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- ISBN
- 0387105182
- 3540105182
- 0387115153
- 3540115153
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- LCCN
- 81005354
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/81005354
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- gw
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Berlin ; New York
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- 分類
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- LCC: QC611.6.D4
- DC19: 537.6/22
- NDC8: 428.4
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- 件名
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- LCSH: Semiconductors -- Defects
- LCSH: Point defects
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- データソース種別
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- CiNii Books