書誌事項
- タイトル
- "Multi-chip module test strategies"
- 責任表示
- edited by Yervant Zorian
- 出版者
-
- Kluwer
- 出版年月
-
- c1997
- 書籍サイズ
- 27 cm
- シリーズ名/番号
-
- acid-free paper
この図書・雑誌をさがす
注記
"Reprinted from a special issue of Journal of electronic testing: theory and applications, vol. 10, nos. 1 & 2, April 1997."
Includes bibliographical references and index
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1130000796739332480
-
- NII書誌ID
- BA36370107
-
- ISBN
- 079239920X
-
- LCCN
- 97008206
-
- Web Site
- https://lccn.loc.gov/97008206
-
- 本文言語コード
- en
-
- 出版国コード
- us
-
- タイトル言語コード
- en
-
- 出版地
-
- Boston
-
- 分類
-
- LCC: TK7874
- DC21: 621.381/046
-
- データソース種別
-
- CiNii Books