Non-intrusive inspection technologies : 17-18 April 2006, Kissimmee, Florida, USA
書誌事項
- タイトル
- "Non-intrusive inspection technologies : 17-18 April 2006, Kissimmee, Florida, USA"
- 責任表示
- George Vourvopoulos, F. Patrick Doty, chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- c2006
- 書籍サイズ
- 28 cm
- シリーズ名/番号
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- pbk.
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注記
Includes bibliographical references and author index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000796792337152
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- NII書誌ID
- BA8007123X
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- ISBN
- 0819462691
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- LCCN
- 2006285160
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/2006285160
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash.
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- 分類
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- LCC: HV8290
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- データソース種別
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- CiNii Books