Non-intrusive inspection technologies : 17-18 April 2006, Kissimmee, Florida, USA

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タイトル
"Non-intrusive inspection technologies : 17-18 April 2006, Kissimmee, Florida, USA"
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George Vourvopoulos, F. Patrick Doty, chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
出版者
  • SPIE
出版年月
  • c2006
書籍サイズ
28 cm
シリーズ名/番号
  • pbk.

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注記

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