Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011, Miyazaki, Japan
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書誌事項
- タイトル
- "Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011, Miyazaki, Japan"
- 責任表示
- edited by Hiroshi Yamada-Kaneta, Akira Sakai
- 出版者
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- Trans Tech Pubs., Ltd.
- 出版年月
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- c2012
- 書籍サイズ
- 24 cm
- シリーズ名/番号
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- : pbk
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注記
Includes bibliographical references and indexes
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000796798969344
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- NII書誌ID
- BB20186831
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- ISBN
- 9783037854426
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- sz
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Durnten-Zurich
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- データソース種別
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- CiNii Books