Electron microfractography : a symposium presented at the seventy-first annual meeting, American Society for Testing and Materials
書誌事項
- タイトル
- "Electron microfractography : a symposium presented at the seventy-first annual meeting, American Society for Testing and Materials"
- 出版者
-
- American Society for Testing and Materials
- 出版年月
-
- [1969]
- 書籍サイズ
- 24 cm
この図書・雑誌をさがす
注記
"Sponsored by Subcommittee II on Fractography of ASTM Committee E-24 on Fracture Testing of Metals."
Includes bibliographies
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1130000796809934080
-
- NII書誌ID
- BA02975967
-
- ISBN
- 0803100132
-
- LCCN
- 76078439
-
- Web Site
- https://lccn.loc.gov/76078439
-
- 本文言語コード
- en
-
- 出版国コード
- us
-
- タイトル言語コード
- en
-
- 出版地
-
- Philadelphia
-
- 件名
-
- データソース種別
-
- CiNii Books
