組み合わせ論理回路のソフトエラー評価を可能とするLSIテスト技術

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Bibliographic Information

Title
"組み合わせ論理回路のソフトエラー評価を可能とするLSIテスト技術"
Statement of Responsibility
研究代表者 小林大輔
Publisher
  • [小林大輔]
Publication Year
  • 2008.3
Book size
30 cm
Other Title
  • クミアワセ ロンリ カイロ ノ ソフトエラー ヒョウカ オ カノウトスル LSI テスト ギジュツ

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Notes

課題番号18560359

研究分担者:廣瀬和之、斎藤宏文

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Details 詳細情報について

  • CRID
    1130000796920329216
  • NII Book ID
    BA85996239
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    ja
  • Place of Publication
    • [相模原]
  • Data Source
    • CiNii Books
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