組み合わせ論理回路のソフトエラー評価を可能とするLSIテスト技術
CiNii
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Bibliographic Information
- Title
- "組み合わせ論理回路のソフトエラー評価を可能とするLSIテスト技術"
- Statement of Responsibility
- 研究代表者 小林大輔
- Publisher
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- [小林大輔]
- Publication Year
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- 2008.3
- Book size
- 30 cm
- Other Title
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- クミアワセ ロンリ カイロ ノ ソフトエラー ヒョウカ オ カノウトスル LSI テスト ギジュツ
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Notes
課題番号18560359
研究分担者:廣瀬和之、斎藤宏文
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1130000796920329216
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- NII Book ID
- BA85996239
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- Country Code
- ja
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- Title Language Code
- ja
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- Place of Publication
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- [相模原]
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- Data Source
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- CiNii Books