Soft X-ray and EUV imaging systems : 3-4 August 2000, San Diego, USA
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書誌事項
- タイトル
- "Soft X-ray and EUV imaging systems : 3-4 August 2000, San Diego, USA"
- 責任表示
- Winfried M. Kaiser, Richard H. Stulen chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- c2000
- 書籍サイズ
- 28 cm
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注記
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000797141100544
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- NII書誌ID
- BA4967505X
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- ISBN
- 0819437913
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash., USA
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- 件名
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- データソース種別
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- CiNii Books