IEEE trial-use standard for Test Equipment Decription Language (TEDL)

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書誌事項

タイトル
"IEEE trial-use standard for Test Equipment Decription Language (TEDL)"
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Sponsor, IEEE SCC20 Test Equipment Description Subcommitte of the IEEE Standards Board
出版者
  • Institute of Electrical and Electronics Engineers
出版年月
  • c1990
書籍サイズ
28 cm

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注記

"Approved February 15, 1990 IEEE Standards Board"--T.p

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000797192021248
  • NII書誌ID
    BA7449947X
  • ISBN
    1559370297
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • New York
  • データソース種別
    • CiNii Books
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