Defects in SiO[2] and related dielectrics : science and technology

NATO Advanced Study Institute on Defects in SiO[2] and Related Dielectrics, Science and Technology, Pacchioni, G. (Gianfranco), Skuja, L. (Linards), Griscom, David L.

Defects in SiO[2] and related dielectrics : science and technology

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書誌事項

タイトル: "Defects in SiO[2] and related dielectrics : science and technology"

責任表示: edited by G. Pacchioni, L. Skuja, D. L. Griscom

出版者

Kluwer Academic Publishers

出版年月

c2000

書籍サイズ: 25 cm

シリーズ名/番号

: pbk

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Includes bibliographical references and index

"Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Defects in SiO[2] and Related Dielectrics, Science and Technology, Erice, Italy, April 8-20, 2000"--T.P. verso

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