Data analysis and modeling for process control II : 3-4 March, 2005, San Jose, California, USA
書誌事項
- タイトル
- "Data analysis and modeling for process control II : 3-4 March, 2005, San Jose, California, USA"
- 責任表示
- Iraj Emami, chair/editor ; Christopher P. Ausschnitt, Kenneth W. Tobin, Jr., cochair/editors ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering ; cooperating organization, International SEMATECH ; published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- c2005
- 書籍サイズ
- 28 cm
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注記
Includes bibliographical references and author index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000797251978112
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- NII書誌ID
- BA86005442
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- ISBN
- 0819457353
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- LCCN
- 2006530687
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/2006530687
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash.
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- データソース種別
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- CiNii Books