Optical systems contamination and degradation II : effects, measurements, and control : 2-3 August 2000, San Diego, USA
CiNii
所蔵館 3館
書誌事項
- タイトル
- "Optical systems contamination and degradation II : effects, measurements, and control : 2-3 August 2000, San Diego, USA"
- 責任表示
- Philip T. Chen, O. Manuel Uy, chairs/editors ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering
- 出版者
-
- SPIE
- 出版年月
-
- c2000
- 書籍サイズ
- 28 cm
この図書・雑誌をさがす
注記
Includes index
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1130000797343141376
-
- NII書誌ID
- BA4868280X
-
- ISBN
- 0819437417
-
- 本文言語コード
- en
-
- 出版国コード
- us
-
- タイトル言語コード
- en
-
- 出版地
-
- Bellingham, Wash., USA
-
- データソース種別
-
- CiNii Books