Surface scattering and diffraction for advanced metrology II : 9 July 2002 Seattle, Washington, USA
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書誌事項
- タイトル
- "Surface scattering and diffraction for advanced metrology II : 9 July 2002 Seattle, Washington, USA"
- 責任表示
- Zu-Han Gu, Alexei A. Maradudin, chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering ; cooperating organizations the Boeing Company (USA) ... [et al.]
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- c2002
- 書籍サイズ
- 28 cm
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注記
Includes index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000797428007552
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- NII書誌ID
- BA6196980X
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- ISBN
- 0819445479
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash.
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- データソース種別
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- CiNii Books