書誌事項
- タイトル
- "Recombination lifetime measurements in silicon"
- 責任表示
- Dinesh C. Gupta, Fred R. Bacher, and William H. Hughes, editors
- 出版者
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- ASTM
- 出版年月
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- c1998
- 書籍サイズ
- 24 cm
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注記
Papers presented at the Advanced Workshop on Silicon Recombination Lifetime Characterization Methods, held in Santa Clara, Calif on June 2-3, 1997
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000797481019648
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- NII書誌ID
- BA38492284
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- ISBN
- 0803124899
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- LCCN
- 98022034
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/98022034
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- W. Conshohocken, PA
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- 分類
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- LCC: TK7871.852
- DC21: 621.3815/2
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- データソース種別
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- CiNii Books
