Testing static random access memories : defects, fault models, and test patterns

Web Site CiNii 所蔵館 2館

書誌事項

タイトル
"Testing static random access memories : defects, fault models, and test patterns"
責任表示
by Said Hamdioui
出版者
  • Kluwer Academic
出版年月
  • c2004
書籍サイズ
25 cm

この図書・雑誌をさがす

注記

Includes bibliographical references and index

関連図書・雑誌

もっと見る

詳細情報 詳細情報について

ページトップへ