超高性能VLSIの論理設計とテスト方式に関する研究

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書誌事項

タイトル
"超高性能VLSIの論理設計とテスト方式に関する研究"
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研究代表者 笹尾勤
出版者
  • [九州工業大学]
出版年月
  • 2001.3
書籍サイズ
30cm
タイトル別名
  • チョウコウセイノウ VLSI ノ ロンリ セッケイ ト テスト ホウシキ ニカンスル ケンキュウ
  • 平成11年度〜平成13年度科学研究費補助金(基盤研究(B)(2))研究成果報告書

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注記

課題番号: 11694168

研究分担者: 梶原誠司

参考文献

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000798008363904
  • NII書誌ID
    BA77954073
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    ja
  • 出版地
    • [北九州]
  • データソース種別
    • CiNii Books
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