Design, Test, Integration, and Packaging of MEMS/MOEMS : 9-11 May 2000, Paris, France
CiNii
所蔵館 3館
書誌事項
- タイトル
- "Design, Test, Integration, and Packaging of MEMS/MOEMS : 9-11 May 2000, Paris, France"
- 責任表示
- Bernard Courtois ... [et al.] ; sponsored by CNRS-INPG-UJF(France), The Institute of Electrical and Electronics Engineers, IEEE Computer Society Test Technology Technical Council
- 出版者
-
- SPIE
- 出版年月
-
- c2000
- 書籍サイズ
- 28 cm
この図書・雑誌をさがす
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1130000798020468096
-
- NII書誌ID
- BA60204603
-
- ISBN
- 0819436453
-
- 本文言語コード
- en
-
- 出版国コード
- us
-
- タイトル言語コード
- en
-
- 出版地
-
- Bellingham, Wash.
-
- データソース種別
-
- CiNii Books