書誌事項
- タイトル
- "Stereology and morphometry in electron microscopy : problems and solutions"
- 責任表示
- edited by Albrecht Reith, Terry M. Mayhew ; with a foreword by Ewald R. Weibel
- 出版者
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- Hemisphere Pub. Corp.
- 出版年月
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- c1988
- 書籍サイズ
- 24 cm
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注記
Bibliography: p. 211-212
Includes index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000798183071616
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- NII書誌ID
- BA20314424
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- ISBN
- 0891166238
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- LCCN
- 87035365
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/87035365
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- New York
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- 件名
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- LCSH: Electron microscopy -- Technique
- LCSH: Stereology
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- データソース種別
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- CiNii Books