Stereology and morphometry in electron microscopy : problems and solutions

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書誌事項

タイトル
"Stereology and morphometry in electron microscopy : problems and solutions"
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edited by Albrecht Reith, Terry M. Mayhew ; with a foreword by Ewald R. Weibel
出版者
  • Hemisphere Pub. Corp.
出版年月
  • c1988
書籍サイズ
24 cm

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注記

Bibliography: p. 211-212

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