Derivation of optimum tests to detect faults in combinational circuits
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書誌事項
- タイトル
- "Derivation of optimum tests to detect faults in combinational circuits"
- 責任表示
- J.F. Poage
- 出版者
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- Princeton University
- 出版年月
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- 1962
- 書籍サイズ
- 28 cm
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注記
"March 1962"
"This work was performed while the author held a Bell Telephone Laboratories Employee Fellowship at Princeton University"
Includes bibliographical references (p. 38-39)
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000798214595200
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- NII書誌ID
- BA86699068
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- [Princeton]
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- データソース種別
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- CiNii Books