書誌事項
- タイトル
- "System-on-chip test architectures : nanometer design for testability"
- 責任表示
- edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
- 出版者
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- Morgan Kaufmann Pub.
- 出版年月
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- c2008
- 書籍サイズ
- 24 cm
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注記
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000798351700096
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- NII書誌ID
- BA83999837
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- ISBN
- 9780123739735
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- LCCN
- 2007023373
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/2007023373
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Burlington, Mass.
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- 分類
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- LCC: TK7895.E42
- DC22: 621.39/5
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- データソース種別
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- CiNii Books