X線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析

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Bibliographic Information

Title
"X線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析"
Statement of Responsibility
edited by K. Sakurai and K. Hirano
Publisher
  • High Energy Accelerator Research Organization (KEK)
Publication Year
  • 2002.1
Book size
30cm
Other Title
  • Xセン チュウセイシ ハンシャリツホウ ニヨル ハクマク タソウマク ノ コウゾウ カイセキ
  • X-ray and neutron reflectivity studies on thin films and multilayers

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Notes

表紙: "December 21-22, 2001"

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Details 詳細情報について

  • CRID
    1130282268692777088
  • NII Book ID
    BA56635102
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    ja
  • Place of Publication
    • Tsukuba
  • Data Source
    • CiNii Books
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