X線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析
CiNii
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Bibliographic Information
- Title
- "X線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析"
- Statement of Responsibility
- edited by K. Sakurai and K. Hirano
- Publisher
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- High Energy Accelerator Research Organization (KEK)
- Publication Year
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- 2002.1
- Book size
- 30cm
- Other Title
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- Xセン チュウセイシ ハンシャリツホウ ニヨル ハクマク タソウマク ノ コウゾウ カイセキ
- X-ray and neutron reflectivity studies on thin films and multilayers
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Notes
表紙: "December 21-22, 2001"
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1130282268692777088
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- NII Book ID
- BA56635102
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- Country Code
- ja
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- Title Language Code
- ja
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- Place of Publication
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- Tsukuba
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- Data Source
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- CiNii Books