書誌事項
- タイトル
- "Metrology of optoelectronic systems : 21-22 May 1987, Orlando, Florida"
- 責任表示
- Edward M. Granger, chair/editor ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering ; cooperating organizations, Center for Applied Optics/University of Alabama in Huntsville ... [et al.]
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- c1987
- 書籍サイズ
- 28 cm
- シリーズ名/番号
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- : pbk
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注記
Includes bibliographies and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282268821218048
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- NII書誌ID
- BA0711948X
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- ISBN
- 0892528117
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- LCCN
- 87061625
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/87061625
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash., USA
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- 分類
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- LCC: TA1750
- DC20: 621.381/045
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- データソース種別
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- CiNii Books