VLSI test principles and architectures : design for testability

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タイトル
"VLSI test principles and architectures : design for testability"
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edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen
出版者
  • Elsevier Morgan Kaufmann Publishers
出版年月
  • 2006
書籍サイズ
24 cm

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注記

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