Advanced measurement and test : selected, peer reviewed papers from the 2011 2nd International Conference on Advanced Measurement and Test (AMT 2011), June 24-26, 2011, Nanchang, China

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書誌事項

タイトル
"Advanced measurement and test : selected, peer reviewed papers from the 2011 2nd International Conference on Advanced Measurement and Test (AMT 2011), June 24-26, 2011, Nanchang, China"
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edited by Riza Esa and Yanwen Wu
出版者
  • Trans Tech Publications
出版年月
  • c2011
書籍サイズ
25 cm
シリーズ名/番号
  • : [set]

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Includes bibliographical references and indexes

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130282269132887296
  • NII書誌ID
    BB07198494
  • ISBN
    9783037851975
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    sz
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Durnten-Zurich
  • データソース種別
    • CiNii Books
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