LSI歩留り向上のための誤テスト回避型テスト方式に関する研究
CiNii
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書誌事項
- タイトル
- "LSI歩留り向上のための誤テスト回避型テスト方式に関する研究"
- 責任表示
- 温暁青研究代表
- 出版者
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- [九州工業大学]
- 出版年月
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- 2007.5
- 書籍サイズ
- 30cm
- タイトル別名
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- LSI ブドマリ コウジョウ ノ タメ ノ ゴテスト カイヒガタ テスト ホウシキ ニカンスル ケンキュウ
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注記
課題番号: 17500039
平成17年度~平成18年度科学研究費補助金(基盤研究(C))研究成果報告書
研究分担者: 梶原誠司
参考文献: 各論末
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282269520828800
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- NII書誌ID
- BB06083271
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- 出版国コード
- ja
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- タイトル言語コード
- ja
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- 出版地
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- [北九州]
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- データソース種別
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- CiNii Books