Recent advances in metrology, characterization, and standards for optical digital data disks : 21-22 July 1999, Denver, Colorado

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タイトル
"Recent advances in metrology, characterization, and standards for optical digital data disks : 21-22 July 1999, Denver, Colorado"
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[Fernando Luis Podio, chair/editor] ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering, IDEMA, [and] Information Technology Lab./National Institute of Standards and Technology
出版者
  • SPIE
出版年月
  • c1999
書籍サイズ
28 cm

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注記

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