JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例
CiNii
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書誌事項
- タイトル
- "JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例"
- 責任表示
- 坂巻佳壽美著
- 出版者
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- CQ出版
- 出版年月
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- 1998.12
- 書籍サイズ
- 21cm
- タイトル別名
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- JTAG テスト ノ キソ ト オウヨウ : シンジダイ ノ デンシ カイロ キバン ノ テスト シュホウ ト サマザマナ オウヨウ ジレイ
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注記
参考文献: p180
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282269770981632
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- NII書誌ID
- BA39259718
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- ISBN
- 4789836827
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- 本文言語コード
- ja
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- 出版国コード
- ja
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- タイトル言語コード
- ja
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- 出版地
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- 東京
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- 件名
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- BSH: 集積回路
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- データソース種別
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- CiNii Books
