ICDS-23 : proceedings of the 23rd International Conference on Defects in Semiconductors, held in Awaji Island, Japan, 24-29 July 2005
CiNii
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書誌事項
- タイトル
- "ICDS-23 : proceedings of the 23rd International Conference on Defects in Semiconductors, held in Awaji Island, Japan, 24-29 July 2005"
- 責任表示
- guest editors, A. Oshiyama...[et al.]
- 出版者
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- Elsevier
- 出版年月
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- c2006
- 書籍サイズ
- 28 cm
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282269783775872
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- NII書誌ID
- BB25714507
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- ne
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- [Amsterdam], The Netherlands
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- データソース種別
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- CiNii Books