脳虚血耐性現象の遺伝子発現からのアプローチ : DC potential計測を虚血負荷の客観的指標とした検討
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Bibliographic Information
- Title
- "脳虚血耐性現象の遺伝子発現からのアプローチ : DC potential計測を虚血負荷の客観的指標とした検討"
- Statement of Responsibility
- 阿部博史研究代表
- Publisher
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- [阿部博史]
- Publication Year
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- 1999.3
- Book size
- 30cm
- Other Title
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- ノウ キョケツ タイセイ ゲンショウ ノ イデンシ ハツゲン カラ ノ アプローチ : DC potential ケイソク オ キョケツ フカ ノ キャッカンテキ シヒョウ ト シタ ケントウ
- 平成8年度-平成10年度科学研究費補助金(基盤研究(B)(2))研究成果報告書(課題番号08457359)
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1130282269891290624
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- NII Book ID
- BA41440085
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- Country Code
- ja
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- Title Language Code
- ja
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- Place of Publication
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- [新潟]
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- Data Source
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- CiNii Books
