Advanced measurement and test III : selected, peer reviewed papers from the 2013 3rd International Conference on Advanced Measurement and Test (AMT 2013), Xiamen, China, 13-14 March 2013
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書誌事項
- タイトル
- "Advanced measurement and test III : selected, peer reviewed papers from the 2013 3rd International Conference on Advanced Measurement and Test (AMT 2013), Xiamen, China, 13-14 March 2013"
- 責任表示
- editors, Andy Wu
- 出版者
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- Trans Tech Publications
- Printed from e-media with permission by Curran Associates
- 出版年月
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- 2013
- 書籍サイズ
- 27 cm
- シリーズ名/番号
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- : [set]
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注記
Includes bibliographical references and indexes
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282269971664768
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- NII書誌ID
- BB13871960
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- ISBN
- 9781627489324
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- sz
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Stafa-Zuerich
- Red Hook, NY
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- データソース種別
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- CiNii Books