Microelectronics manufacturability, yield, and reliability : 20-21 October 1994, Austin, Texas
書誌事項
- タイトル
- "Microelectronics manufacturability, yield, and reliability : 20-21 October 1994, Austin, Texas"
- 責任表示
- Barbara Vasquez, Hisao Kawasaki, chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- c1994
- 書籍サイズ
- 28 cm
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注記
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282270022680192
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- NII書誌ID
- BA29176079
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- ISBN
- 0819416673
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- LCCN
- 94067260
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/94067260
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash., USA
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- 分類
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- LCC: TK7874
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- データソース種別
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- CiNii Books