Matching Japan in quality : how the leading U.S. semiconductor firms caught up with the best in Japan
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書誌事項
- タイトル
- "Matching Japan in quality : how the leading U.S. semiconductor firms caught up with the best in Japan"
- 責任表示
- William F. Finan
- 出版者
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- Center for International Studies, Massachusetts Institute of Technology
- 出版年月
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- [1993?]
- 書籍サイズ
- 28 cm
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注記
Includes bibliographical references
"Distributed courtesy of the MIT Japan program, science, technology, management"
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282270520598400
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- NII書誌ID
- BA37393232
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Cambridge, Mass.
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- データソース種別
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- CiNii Books