Progress in measurement and testing : selected, peer reviewed papers from the 2010 International Conference on Advanced Measurement and Test (AMT 2010), May 15-16, 2010, Sanya, P.R. China
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書誌事項
- タイトル
- "Progress in measurement and testing : selected, peer reviewed papers from the 2010 International Conference on Advanced Measurement and Test (AMT 2010), May 15-16, 2010, Sanya, P.R. China"
- 責任表示
- edited by Yanwen Wu
- 出版者
-
- Trans Tech Publications
- 出版年月
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- c2010
- 書籍サイズ
- 25 cm
- シリーズ名/番号
-
- :[set]
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注記
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282271062647680
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- NII書誌ID
- BB02714530
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- ISBN
- 9780878492695
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- sz
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Stafa-Zurich
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- 分類
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- DC22: 620.112
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- 件名
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- LCSH: Materials -- Testing -- Congresses
- LCSH: Materials science -- Congresses
- LCSH: Industrial design -- Congresses
- FREE: Advanced measurements
- FREE: Advanced tests
- FREE: AMT
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- データソース種別
-
- CiNii Books
