書誌事項
- タイトル
- "Integrated circuit defect-sensitivity : theory and computational models"
- 責任表示
- by José Pineda de Gyvez
- 出版者
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- Kluwer Academic Publishers
- 出版年月
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- c1993
- 書籍サイズ
- 25 cm
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注記
Includes bibliographical references (p. 138-146) and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282271092237824
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- NII書誌ID
- BA20492885
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- ISBN
- 0792393066
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- LCCN
- 92035547
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/92035547
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Boston
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- データソース種別
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- CiNii Books