Defect recognition and image processing in semiconductors and devices : proceedings of the fifth international conference, Santander, Spain, 6-10 September 1993
書誌事項
- タイトル
- "Defect recognition and image processing in semiconductors and devices : proceedings of the fifth international conference, Santander, Spain, 6-10 September 1993"
- 責任表示
- edited by J. Jiménez
- 出版者
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- Institute of Physics Pub.
- 出版年月
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- 1994
- 書籍サイズ
- 24 cm
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注記
DRIP conference proceedings
Includes bibliographical references and indexes
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282271113039360
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- NII書誌ID
- BA23067911
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- ISBN
- 0750302941
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- LCCN
- 94010524
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/94010524
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- uk
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bristol
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- 分類
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- LCC: TK7871.85
- DC20: 621.3815/2/0287
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- データソース種別
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- CiNii Books