Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1130282271144253440

• NII書誌ID

  BA12908740

• ISBN

  9810202822

• LCCN

  91003700

• Web Site

  https://lccn.loc.gov/91003700

• 本文言語コード

  en

• 出版国コード

  si

• タイトル言語コード

  en

• 出版地

  • Singapore ; Teaneck, N.J.

• 分類

  • LCC: TK7874
  • DC20: 621.39/5

• 件名

  • LCSH: Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction
  • LCSH: Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing

• データソース種別

  • CiNii Books