収束電子回折法によるナノスケール点欠陥解析法の開発と点欠陥誘起物性への応用
CiNii
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書誌事項
- タイトル
- "収束電子回折法によるナノスケール点欠陥解析法の開発と点欠陥誘起物性への応用"
- 責任表示
- 津田健治研究代表者
- 出版者
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- [津田健治]
- 出版年月
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- 2007.5
- 書籍サイズ
- 30cm
- タイトル別名
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- シュウソク デンシ カイセツホウ ニヨル ナノスケール テン ケッカン カイセキホウ ノ カイハツ ト テン ケッカン ユウキ ブッセイ エノ オウヨウ
- 平成17年度〜平成18年度科学研究費補助金(基盤研究(C))研究成果報告書(課題番号17510083)
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282271436018048
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- NII書誌ID
- BB10459461
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- 出版国コード
- ja
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- タイトル言語コード
- ja
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- 出版地
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- [仙台]
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- データソース種別
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- CiNii Books