Digital hardware testing : transistor-level fault modeling and testing
書誌事項
- タイトル
- "Digital hardware testing : transistor-level fault modeling and testing"
- 責任表示
- Rochit Rajsuman
- 出版者
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- Artech House
- 出版年月
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- c1992
- 書籍サイズ
- 24 cm
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注記
"Annotated bibliography": p. 303-310
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282271538576512
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- NII書誌ID
- BA1863679X
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- ISBN
- 0890065802
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- LCCN
- 92007350
- 92008800
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Boston
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- 分類
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- LCC: TK7888.4
- DC20: 621.39/5/0287
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- データソース種別
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- CiNii Books