高純度CVD-SiC静的加熱試験時の温度分布計測
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書誌事項
- タイトル
- "高純度CVD-SiC静的加熱試験時の温度分布計測"
- 責任表示
- 宇宙航空研究開発機構編 ; 芳仲敏成, 総合技術研究本部システム評価技術グループ[著]
- 出版者
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- 宇宙航空研究開発機構
- 出版年月
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- 2004.3
- 書籍サイズ
- 30cm
- タイトル別名
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- コウジュンド CVD-SiC セイテキ カネツ シケンジ ノ オンド ブンプ ケイソク
- Temperature measurements for the CVD-Sic static heating tests
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282271553479680
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- NII書誌ID
- BA70459021
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- 本文言語コード
- ja
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- 出版国コード
- ja
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- タイトル言語コード
- ja
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- 出版地
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- 調布
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- 分類
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- NDLC: Y251
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- データソース種別
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- CiNii Books
