電磁計測による材料劣化・微小分布欠陥の新しい評価法
CiNii
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書誌事項
- タイトル
- "電磁計測による材料劣化・微小分布欠陥の新しい評価法"
- 責任表示
- 坂真澄研究代表
- 出版者
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- [坂真澄]
- 出版年月
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- 1994.3
- 書籍サイズ
- 30cm
- タイトル別名
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- デンジ ケイソク ニヨル ザイリョウ レッカ ビショウ ブンプ ケッカン ノ アタラシイ ヒョウカホウ
- 平成5年度科学研究費補助金(一般研究(C))研究成果報告書(課題番号03805009)
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282271775221632
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- NII書誌ID
- BB12244014
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- 出版国コード
- ja
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- タイトル言語コード
- ja
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- 出版地
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- [仙台]
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- データソース種別
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- CiNii Books