Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
書誌事項
- タイトル
- "Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits"
- 責任表示
- Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal
- 出版者
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- Kluwer Academic
- 出版年月
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- c2000
- 書籍サイズ
- 26 cm
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注記
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282271821493376
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- NII書誌ID
- BA50218474
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- ISBN
- 0792379918
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- LCCN
- 00046212
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/00046212
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Boston, MA
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- データソース種別
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- CiNii Books
