Transmission electron microscopy and diffractometry of materials
CiNii
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書誌事項
- タイトル
- "Transmission electron microscopy and diffractometry of materials"
- 責任表示
- Brent Fultz, James Howe
- 出版者
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- Springer
- 2nd ed
- 出版年月
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- c2002
- 書籍サイズ
- 24 cm
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注記
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282271912102400
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- NII書誌ID
- BA59086328
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- ISBN
- 3540437649
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- gw
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Berlin ; Tokyo
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- 分類
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- LCC: TA417.23
- DC21: 620.1/1299
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- 件名
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- LCSH: Materials -- Microscopy
- LCSH: Transmission electron microscopy
- LCSH: X-ray diffractometer
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- データソース種別
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- CiNii Books
