Microelectronic test pattern NBS-4
CiNii
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書誌事項
- タイトル
- "Microelectronic test pattern NBS-4"
- 責任表示
- W. Robert Thurber and Martin G. Buehler
- 出版者
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- U.S. G.P.O.
- 出版年月
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- 1978
- 書籍サイズ
- 26 cm
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注記
Includes bibliographical references
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282271964383616
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- NII書誌ID
- BB18757237
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Washington
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- データソース種別
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- CiNii Books